Olympus Logo

联系我们 联系我们

  • 产品▾
    • 无损检测解决方案▾
      • 探伤仪▾
        • 便携式超声探伤仪
        • 相控阵仪
        • 涡流产品
        • 涡流阵列产品
        • 粘接检测
      • 手持式测厚仪▾
        • 27MG
        • 45MG
        • 38DL PLUS
        • Magna-Mike 8600
        • 35RDC
        • 探头和附件
      • 探头▾
        • 单晶和双晶探头
        • 涡流探头
        • 用于管材检测的探头
        • 相控阵探头
        • BondMaster探头
      • 棒材检测解决方案▾
        • 棒材检测系统 (BIS)
        • 棒材检测系统（BIS）：涡流阵列
        • 旋转坯材检测系统 (RBIS)
        • FOX-IQ
      • 管材检测解决方案▾
        • RTIS：旋转管材检测系统
        • 在线ERW管材检测系统
        • 离线ERW管材检测系统
        • FOX-IQ
        • PipeWIZARD
        • LSAW Tube Inspection System
      • 火车轮检测系统
      • 用于NDT系统的仪器▾
        • FOCUS PX / PC / SDK
        • QuickScan
      • 工业扫查器▾
        • 焊缝检测扫查器
        • 腐蚀检测扫查器
        • 航空航天检测扫查器
        • 扫查器配件
    • XRF和XRD分析仪▾
      • 手持式XRF分析仪▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • DELTA Professional
      • 紧凑型便携式XRF分析仪▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • GoldXpert
        • 用于消费者/RoHS合规检测的Xpert
      • 工业处理用XRF分析仪▾
        • FOX-IQ
      • XRD分析仪▾
        • 便携式XRD
        • BTX台式XRD
      • OEM解决方案▾
        • X-STREAM
      • 应用解决方案快捷方式
    • 显微镜解决方案▾
      • 扫描探针显微镜▾
        • OLS4500
      • 激光共焦显微镜▾
        • OLS5000
      • 数码显微镜
      • 测量显微镜▾
        • STM7
        • STM7-BSW
      • 清洁度检测仪▾
        • OLYMPUS CIX100
      • 光学显微镜▾
        • 正立金相显微镜
        • 倒置金相显微镜
        • 小型系统显微镜
      • 半导体与平板显示器检测显微镜▾
        • MX63 / MX63L
        • AL120
        • AL120-12
      • 体视显微镜▾
        • SZX16
        • SZX10
        • SZX7
        • SZ61/SZ51
      • 数码显微照相装置▾
        • DP74
        • SC180
        • UC90
        • DP27
        • SC50
        • LC30
        • DP22
        • XM10
        • XM10IR
      • 图像分析软件▾
        • 奥林巴斯Stream
      • 镜片反射率测定仪▾
        • USPM-RU-W
        • USPM-RU III
      • 物镜▾
        • MPLAPON
        • MPLAPON-Oil
        • MPLN
        • MPLN-BD
        • MPLFLN
        • MPLFLN-BD
        • MPLFLN-BDP
        • LMPLFLN
        • LMPLFLN-BD
        • SLMPLN
        • LCPLFLN-LCD
        • LMPLN-IR/LCPLN-IR
        • 白光干涉物镜
        • 微测计
      • 用于整合的显微镜部件▾
        • 设备集成解决方案
        • 物镜透镜
        • 光学显微镜架
        • 超宽视场镜筒透镜
        • 光学显微镜模块
        • 模块化显微镜组件
      • 显微镜常见问题
    • 内窥镜与管道镜▾
      • 工业视频内窥镜▾
        • IPLEX NX
        • IPLEX GX/GT
        • IPLEX G Lite
        • IPLEX TX
        • IPLEX YS
        • IPLEX Long Scope Solution
      • 工业纤维内窥镜▾
        • 小直径纤维镜
      • 标准硬性管道镜▾
        • 标准硬性管道镜
        • 摆动棱镜管道镜
        • 变焦摇摆棱镜管道镜
        • MK模块化微型观察镜
        • 航空发动机内窥镜
      • 光源
      • 检测辅助软件▾
        • InHelp
      • 转动工具
  • 行业
  • 博客
  • 资源库
  • 技术支持▾
    • Customer Service
    • 联系我们
    • Olympus Scientific Cloud
    • 产品信息
    • 服务中心
    • 软件下载
    • 培训学院
    • 已停产和过时的产品
    • Product Service Termination List
    • ISO认证
    • MSDS数据表
    • 供应条款和条件
    • CIC
    • 奥林巴斯的技术实验室
    • 显微镜课堂
    • 道德规范和公司合规
  • 租赁
  • 商店
  • 搜索
  • My Account
    • IMS Log in
    • IMS Registration
    • Log Out
工业解决方案

探头、线缆、耦合剂和试块

联系我们联系我们
获取报价获取报价
要求产品演示在您的应用中测试产品要求产品演示在您的应用中测试产品
主页/ 产品/ 无损检测解决方案/ 手持式测厚仪/ 探头和附件

奥林巴斯可以提供种类齐全的探头、线缆、耦合剂、校准试块以及附件，以满足各种精确超声测厚应用的要求。

精确单晶探头

单晶探头和配件可以准确地测量较薄的材料，如：各种金属，而且可以对处于宽泛的厚度和直径范围内的材料进行测量。这些探头有多种尺寸和频率。

腐蚀测厚探头

双晶探头主要用于腐蚀材料的测量，如：锅炉管件和铸铁。这些探头具有不同的频率、尺寸及抗温能力，可为大多数腐蚀应用提供即需即用的解决方案。

Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
  • 联系我们联系我们
  • 获取报价获取报价
  • 要求产品演示在您的应用中测试产品要求产品演示在您的应用中测试产品
  • 联系我们
  • 无损检测解决方案
    • 探伤仪
    • 手持式测厚仪
      • 27MG
      • 45MG
      • 38DL PLUS
      • Magna-Mike 8600
      • 35RDC
      • 探头和附件
    • 探头
    • 棒材检测解决方案
    • 管材检测解决方案
    • 火车轮检测系统
    • 用于NDT系统的仪器
    • 工业扫查器
  • XRF和XRD分析仪
  • 显微镜解决方案
  • 内窥镜与管道镜
  • 订阅时事通讯
主页/ 产品/ 无损检测解决方案/ 手持式测厚仪/ 探头和附件
打印

Copyright 奥林巴斯（北京）销售服务有限公司. All Rights Reserved  京ICP备09049066号-7

使用条款 | 隐私声明 | Cookies | 联系我们 | 关于我们

京公网安备 11010502032539号

This site uses cookies to enhance performance, analyze traffic, and for ads measurement purposes. If you do not change your web settings, cookies will continue to be used on this website. To learn more about how we use cookies on this website, and how you can restrict our use of cookies, please review our Cookie Policy.

OK
Cancel