Olympus Logo

联系我们 联系我们

  • 产品▾
    • 无损检测解决方案▾
      • 探伤仪▾
        • 便携式超声探伤仪
        • 相控阵仪
        • 涡流产品
        • 涡流阵列产品
        • 粘接检测
      • 手持式测厚仪▾
        • 27MG
        • 45MG
        • 38DL PLUS
        • Magna-Mike 8600
        • 35RDC
        • 探头和附件
      • 探头▾
        • 单晶和双晶探头
        • 涡流探头
        • 用于管材检测的探头
        • 相控阵探头
        • BondMaster探头
      • 自动检测系统▾
        • 火车轮检测系统
        • 棒材检测解决方案
        • 管材检测解决方案
        • Friction Stir Weld Inspection System
      • 用于NDT系统的仪器▾
        • FOCUS PX / PC / SDK
        • QuickScan
      • 工业扫查器▾
        • 焊缝检测扫查器
        • 腐蚀检测扫查器
        • 用于检测航空航天器部件/风力涡轮机叶片的扫查器
        • 扫查器配件
      • 奥林巴斯科学云
    • 荧光光谱仪和衍射分析仪▾
      • 手持式XRF分析仪▾
        • Vanta
        • Vanta Element分析仪
        • DELTA Professional
      • 紧凑型便携式XRF分析仪▾
        • Vanta
        • Vanta Element分析仪
        • GoldXpert
        • 用于消费者/RoHS合规检测的Xpert
      • 工业处理用XRF分析仪▾
        • FOX-IQ
      • XRD分析仪▾
        • 便携式XRD
        • BTX台式XRD
      • OEM解决方案▾
        • X-STREAM
      • 应用解决方案快捷方式
      • 奥林巴斯科学云
    • 显微镜解决方案▾
      • 扫描探针显微镜▾
        • OLS4500
      • 激光共焦显微镜▾
        • OLS5100
      • 数码显微镜
      • 测量显微镜▾
        • STM7
        • STM7-BSW
      • 清洁度检测仪▾
        • OLYMPUS CIX100
      • 光学显微镜▾
        • 正立金相显微镜
        • 倒置金相显微镜
        • 小型系统显微镜
      • 半导体与平板显示器检测显微镜▾
        • MX63 / MX63L
        • AL120
        • AL120-12
      • 体视显微镜▾
        • SZX16
        • SZX10
        • SZX7
        • SZ61/SZ51
      • 数码显微照相装置▾
        • DP74
        • SC180
        • UC90
        • DP27
        • SC50
        • LC30
        • DP22
        • XM10
        • XM10IR
      • 图像分析软件▾
        • 奥林巴斯Stream
      • 镜片反射率测定仪▾
        • USPM-RU-W
        • USPM-RU III
      • 物镜▾
        • MPLAPON
        • MPLAPON-Oil
        • MPLN
        • MPLN-BD
        • MPLFLN
        • MPLFLN-BD
        • MPLFLN-BDP
        • LMPLFLN
        • LMPLFLN-BD
        • SLMPLN
        • LCPLFLN-LCD
        • LMPLN-IR/LCPLN-IR
        • 白光干涉物镜
        • 微测计
      • 用于整合的显微镜部件▾
        • 设备集成解决方案
        • 物镜透镜
        • 光学显微镜架
        • 超宽视场镜筒透镜
        • 光学显微镜模块
        • 模块化显微镜组件
      • 显微镜常见问题
    • 内窥镜与管道镜▾
      • 工业视频内窥镜▾
        • IPLEX NX
        • IPLEX GAir
        • IPLEX GX/GT
        • IPLEX G Lite
        • IPLEX TX
        • IPLEX长管检测解决方案
      • 工业纤维内窥镜▾
        • 小直径纤维镜
      • 标准硬性管道镜▾
        • 标准硬性管道镜
        • 摆动棱镜管道镜
        • 变焦摇摆棱镜管道镜
        • MK模块化微型观察镜
        • 航空发动机内窥镜
      • 光源
      • 检测辅助软件▾
        • InHelp
  • 行业
  • 博客
  • 资源库
  • 技术支持▾
    • 联系我们
    • 奥林巴斯科学云
    • 培训学院
    • 客户服务
    • 服务中心
    • 软件下载
    • 产品信息
    • 已停产和过时的产品
    • Product Service Termination List
    • ISO认证
    • MSDS数据表
    • 供应条款和条件
    • CIC
    • 奥林巴斯的技术实验室
    • 显微镜课堂
    • 道德规范和公司合规
    • Same Day Shipping Program
    • 金融服务
  • 租赁
  • 商店
  • 搜索
  • My Account
    • IMS Log in
    • IMS Registration
    • Log Out
工业解决方案

相控阵探头的介绍

主页/ 产品/ 无损检测解决方案/ 探头/ 相控阵探头

典型阵列探头的频率范围为1 MHz到17 MHz，晶片的数量范围为10到128。Olympus提供各种各样利用压电复合材料技术的探头，可进行各种各样的检测。本部分说明Olympus的标准相控阵探头。这些探头被分为三种类型：角度声束探头、整合楔块探头及水浸探头。

其它类型的探头是根据应用需要而特殊设计的探头。

线性阵列探头是工业应用中最常用的相控阵探头。定义相控阵探头的一个重要因素是探头的激活孔径。

Loading...
  • 概览
  • 探头选项
  • 自定义探头和楔块
  • 资源库

概览

焊缝系列探头

焊缝检测探头的线缆会从其外壳的前面或顶部伸出，这样就可以避免线缆缠绕到扫查器的探头架。这些探头适用于对焊缝进行的手动和自动检测。A31和A32焊缝系列相控阵探头和楔块以其简约的设计，不仅使焊缝检测得到了简化和标准化，而且还改进了信噪比。

查看产品

在被动轴上聚焦（PAF）的楔块

这个已获专利的聚焦楔块系列在对管道周向上的环焊缝进行检测时，有助于补偿声束在被动轴方向的发散现象。宽度较小的声束可以对扫查轴方向上的较短的缺陷进行定量，从而有助于降低报废率，并提供更清晰的图像。

查看产品

用于检测焊缝的双晶阵列探头

双矩阵（DMA）探头包含两个与同一个连接器连线的矩阵探头，具有使用发送-接收纵波（TRL）声束进行检测的能力。这类探头在检测带堆焊层的管道或具有高衰减性的材料时，特别有用。

查看产品

用于腐蚀检测的双晶阵列探头

双晶线性阵列探头，在腐蚀检测应用方面，为检测人员提供了多种优于常规超声双晶探头的优势。这种相控阵解决方案可以提供更大的声束覆盖范围、更快的扫查速度，以及具有更高数据点密度的C扫描成像功能，从而可提高检测效率。

查看产品

新

HTHA探头

在探测高温氢致（HTHA）缺陷的应用中，这些优化的双晶线性阵列探头和全聚焦方式（TFM）探头可以提供更宽泛的扫查角度范围和扩展的聚焦范围，而且在使用较高的增益时，还可以提高信号响应的质量。

查看产品

手动接触式探头

奥林巴斯用于手动接触式检测的A24探头系列拥有一个符合人体工程学要求的外壳设计，其薄膜可以更换，可以提供较大的正方形孔径，因而可用于多种不同的应用。厚度为0.5毫米的薄膜更便于核查耦合情况，使探头在粗糙的表面上顺滑地移动，而且可以防止探头受到磨损。

查看产品

EdgeFORM

汽车制造商使用EdgeFORM相控阵解决方案对卡车、发动机罩和车门面板的粘结或粘胶接缝进行检测，以发现粘合不足或缺少粘胶的空隙缺陷。

查看产品

小底面探头

小底面探头可进入到空间非常狭窄的区域进行检测（A00探头的底面尺寸为8×8毫米）。

查看产品

通用探头

通用探头将薄型探头/楔块组合在一起，可以更容易地进入到空间狭小的区域进行检测。奥林巴斯还提供多种楔块供用户选择，以帮助用户完成各种角度声束检测应用。这些探头不仅可对6.35毫米到38毫米的较厚焊缝进行手动或自动检测，还可以探测到铸件、锻件、管道、机加工部件及结构部件中的裂纹和焊缝缺陷。

查看产品

近壁探头

近壁探头的两端具有较短的盲区（第一晶片的中心和最后晶片的中心到与它们最近的探头外壳边缘的距离是1.5毫米）。它们非常适用于复合材料的通道检测和复合材料的C扫描检测（分层、脱粘和多孔性）。

查看产品

深穿透探头

深穿透探头可与多种楔块配合使用，完成各种角度声束的检测应用。这些探头专用于完成深穿透检测应用，如：对较厚的平板、焊缝、锻件，以及噪声大或粒状性材料的检测。

查看产品

水浸探头

水浸探头的设计目的是与水楔配合使用，或者用于当被检样件部分或全部浸入水中时，在水浸箱中进行检测。这类探头属纵波探头，但经过设置后，使用Rexolite楔块可以进行折射横波检测。

查看产品

曲面阵列探头

曲面阵列探头的外壳由耐腐蚀的不锈钢材料制成，可以保证在水下不超过1米的深度具有防水性能。这些探头的声阻抗与水的声阻抗匹配。这些探头与可调节的水浸楔块相兼容，不仅可以检测复合材料的分层缺陷，还可以检测碳纤维增强聚合物（CFRP）产品的内圆角。

查看产品

用于曲面阵列探头的水浸边角楔块

用于曲面阵列探头的水浸边角楔块具有一些特定的半径和角度，而且还可以对其半径进行调节，以适用于各种工件的检测。这些楔块的设计目的是用于手动扫查，并与袖珍轮式编码器组合在一起使用。

查看产品

带有整合型楔块并符合规范的探头

这种带有整合型楔块并符合规范的探头将探头和楔块放置在同一个外壳中，从而可使探头和楔块的组合件具有很薄的剖面，以完成接触式角度声束检测。由于无需在探头和楔块之间使用耦合剂，因此探头和楔块之间会一直保持良好的耦合状态。这些探头除了可对应力腐蚀裂纹进行手动检测，并完成符合AWS和DGS规范的应用之外，还可同时使用40°到70°范围内的角度进行手动焊缝检测。

查看产品

用于角度声束探头的楔块

奥林巴斯可为30°到70°范围的横波或纵波角度声束检测提供可在钢中生成0°、45°、55°和60°标准折射角度的楔块。这些楔块上带有不锈钢螺钉插孔，可使探头和楔块牢固地接合在一起。用户可以订购IHC楔块选项，以提高检测的质量。IHC选项包括喷水孔、用于连接奥林巴斯扫查器的楔块架上的安装孔，以及可提高防磨效果的硬质合金条。

查看产品

探头选项

相控阵连接器选项

相控阵超声检测（PAUT）正在迅速成为一种很受用户青睐的非常安全的无损检测方法。奥林巴斯作为业内龙头企业，为与各种类型仪器一起使用的相控阵探头提供了多种标准和自定义连接器，供用户选择。

查看产品

自定义探头和楔块

You will be unable to submit the form unless you turn your javascript on.
Are you sure you want to submit this form?

Contact Information

Material Information

MaterialInspected *
QuoteCustomization *

Probe

Probe Type 3
Frequency MHz
Number of elements
Pitch mm
Element Elevation mm
Connector Type 2
Cable Type
Cable Length 2 m
Array Type
RadiusCURVATURE
RadiusCURVATUREfocused
Internal or externally curved/focused?

( Case restrictions, cable exit orientation, mounting requirements,etc. )

Wedge

Wedge Type
What type of probe will the wedge be used with?
Sweeping Angle
Wave Type
Wave Type [?]
Curvature Value (diameter)
Irrigation Ports?
Holes for Scanner?
Carbides?
( Size constraints, etc. )

资源库

产品信息说明册

Tube End Inspection System
焊缝检测解决方案
相控阵腐蚀成像解决方案
相控阵探头和楔块
DGS-AWS相控阵探头的更新
相控阵复合材料检测
双晶线性阵列探头
Olympus连接器选项
 显示更多

博客

您知道吗？我们可以为您的具体应用定制探头
简化了小直径管道的奥氏体焊缝检测的解决方案：5大优势特性

应用注释

飞机紧固件孔的相控阵检测
使用A26双晶线性阵列（DLA）探头检测一个95毫米厚的异种材料焊缝
Spar Cap and Shear Web Bonding Inspection Solution for Wind Turbine Blades
可以替代射线成像的相控阵超声技术
Improved Scan Plan Strategy with Compound S-Scan for Weld Inspection
使用奥林巴斯的高温相控阵解决方案，检测温度高达150 °C的高温部件
用于检测形状复杂样件的柔性超声相控阵探头
Phased Array Mining Haul Truck Wheel Hub Inspection
Phased Array Dipper Handle Inspection for Shovels and Draglines
Manual Phased Array Ultrasound as a Complement to Radiographic Inspections
可以替代射线成像的超声相控阵技术
Laterally Focused Arrays-Improved Defect Length Sizing
Phased Array Inspection of Gears in Heavy Equipment
对奥氏体钢焊缝进行自动超声检测需遵循的指导原则
使用双矩阵探头对会产生声学噪声的焊缝进行检测
Phased-array Examination of Friction Stir Welds
 显示更多

视频

使用OmniScan SX探伤仪的腐蚀解决方案
Atlas相控阵接触式探头
双矩阵列探头
双晶线性阵列探头介绍视频
问题与答案：我们要选用哪种相控阵技术：横波端点衍射，还是波幅落差定量？
 显示更多

信息图表

选择相控阵探头

解决方案

风力涡轮机的检测解决方案
腐蚀检测解决方案
复合材料检测解决方案
焊缝检测解决方案
奥氏体、镍及其它粗晶合金
 显示更多

在线研讨会

Setup and Use of Olympus Dual Matrix Array Probes with OmniScan MX2 Flaw Detector – Getting Started
Advancements in Phased Array Probes for Weld Inspection
Olympus Dual Linear Array Probe for Corrosion Imaging
 显示更多

白皮书

超声相控阵入门

辅导课程

缺陷检测辅导
相控阵辅导

常见问题

超声检测常见问题

幻灯片分享

Introduction to TOFD and Application Tips
OmniScan MX2 for Corrosion Mapping and Position C-Scan
OmniScan MX2 for Improved TOFD Webinar
Advanced Crack Sizing Using the OmniScan MX2
Advanced Probes for Austenitic and CRA Weld Inspection Webinar
Improving surface mining profitability with Phased Array
Dual Linear Array Probe for Corrosion Imaging
Inspection of Complex Geometries Using Flexible Ultrasonic Phased Array Probes
Advances in Phased Array Weld Inspection Scan Plan Designs
 显示更多

书籍

相控阵检测在工业应用方面的基本理论
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
You will be unable to submit the form unless you turn your javascript on.
Are you sure you want to submit this form?
Unknown XForm field "D2561", XML source: "<xf:field xmlns:xf="http://www.1stomni.com/spire" name="Product ID (field)" fieldId="D2561"/>"!
Unknown XForm field "D2561", XML source: "<xf:error xmlns:xf="http://www.1stomni.com/spire" name="Product ID (error)" fieldId="D2561"/>"!

联系我们

Please, choose division
订阅电子新闻邮件，即时邮递新产品、应用程序、特供信息。

  • 联系我们
  • 无损检测解决方案
    • 探伤仪
    • 手持式测厚仪
    • 探头
      • 单晶和双晶探头
      • 涡流探头
      • 用于管材检测的探头
      • 相控阵探头
        • EdgeFORM
        • 焊缝系列探头
        • 用于检测焊缝的双晶阵列探头
        • 用于腐蚀检测的双晶阵列探头
        • 柔性相控阵探头
        • 手动接触式探头
        • 小底面探头
        • 通用型探头
        • 近壁探头
        • 深穿透型探头
        • 水浸探头
        • 曲面阵列探头
        • 用于曲面阵列探头的水浸切角楔块
        • 整合式楔块和符合规范的探头
        • 楔块
        • HTHA探头
      • BondMaster探头
    • 自动检测系统
    • 用于NDT系统的仪器
    • 工业扫查器
    • 奥林巴斯科学云
  • 荧光光谱仪和衍射分析仪
  • 显微镜解决方案
  • 内窥镜与管道镜
  • 订阅时事通讯
主页/ 产品/ 无损检测解决方案/ 探头/ 相控阵探头
打印

Copyright 奥林巴斯（北京）销售服务有限公司. All Rights Reserved  京ICP备09049066号-7

使用条款 | 隐私声明 | Cookies | 联系我们 | 关于我们

京公网安备 11010502032539号

This site uses cookies to enhance performance, analyze traffic, and for ads measurement purposes. If you do not change your web settings, cookies will continue to be used on this website. To learn more about how we use cookies on this website, and how you can restrict our use of cookies, please review our Cookie Policy.

OK
Cancel