相控阵仪 | Olympus IMS

我们生产的相控阵（PA）仪器可进行快速检测，并生成被测工件内部结构的精确、详细的横截面图像。相控阵技术使用多个超声晶片及电子时间延迟，创建可以电子方式传播、扫描、扫查及聚焦的声波，以进行快速检测、完整的数据存储，以及多角度的检测。相控阵技术可提供极为精确可靠的测量结果。

Omniscan X3

OmniScan X3探伤仪是一款功能齐备的相控阵工具箱。其独特创新的全聚焦方式（TFM）可以提供质量上乘的图像，从而有助于检测人员充满信心地识别缺陷；其性能强大的软件功能和便捷的工作流程有助于检测人员迅速地投入到工作中。

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FOCUS PX

可扩缩搭建的FOCUS PX采集单元和Focus PC软件体现了最新的相控阵技术，可以方便地整合到自动和半自动检测系统中。这项解决方案极大地改进了信噪比和检测速度。我们还为用户提供了可选购软件开发包：FocusControl和FocusData。

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OmniScan SX

轻便的单组Omniscan SX仪器装有一个方便用户阅读的8.4英寸（21.3厘米）触摸屏，可提供性价比极高的检测解决方案。Omniscan SX仪器有两个型号：SX PA和SX UT。SX PA是一款16:64PR 仪器，与仅利用UT技术的SX UT一样，也配备了一个常规UT通道，用于脉冲回波（P/E）、一发一收（P-C）或衍射时差（TOFD）检测。

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