奥林巴斯的近红外显微分光测定仪USPM-RU-W可以高速&高精细地进行可视光区域至近红外区域的大范围波长的分光测定。由于其可以很容易地测定通常的分光光度计所不能测定的细微区域、曲面的反射率，因此最适用于光学元件与微小的电子部件等产品。
使用一台即可进行反射率、膜厚、物体颜色、透过率、入射角45度反射率的各种分光测定。
测定以物镜聚光的Φ17~70μm的微小点的反射率。
活用反射率数据，测定约50nm~约10μm的单层膜、多层膜的膜厚。
根据反射率数据显示XY色度图、L*a*b*色度图及相关数值。
从受台下部透过Ø2mm的平行光，测定平面样品的透过率。
从侧面向45度面反射Ø2mm的平行光，测定其反射率。
使用平面光栅及线传感器进行全波长同时分光测定，从而实现高速测定。
新设计了可以在Ø17~70μm的测定区域中进行非接触测定的专用物镜。通常的分光光度计不能进行测定的细小电子部件或镜片等的曲面，也可以实现再现性很高的测定。
将专用物镜与环形照明组合，不需要进行被检测物背面的防反射处理，就可测定最薄0.2mm的反射率*。*使用40×物镜时，在本公司的测定条件下进行测定。
根据测定的分光反射率数据进行单层膜或多层膜的膜厚解析。可以根据用途选择最佳的测定方法。
这是一种根据测定的分光反射率值的峰值与低谷的周期性计算出膜厚的方法，对于测定单层膜是有效的。不需要复杂的设置，可以简单地求出。
这是一种根据测定的分光反射率值的周期性计算膜厚的方法，对于单层膜及多层膜的测定有效。难以检测出峰值及低谷等时，可以几乎不受噪音的影响进行解析。
这是一种通过推算测定的分光反射率值与根据某种膜构造计算的反射率的差达到最小的构造计算出膜厚的方法，对于单层膜及多层膜的测定有效。还可以进行不会出现峰值及低谷的薄膜解析。
高速、高精度地应对多样化测定需求。
数码相机镜片
投影仪镜片
光读取头镜片
眼镜片
LED包装
半导体基板
液晶彩色滤镜
光学薄膜
棱镜
反射镜
| 反射率测定 | 透过率测定*1 | 45度反射测定*1 | |||
| 名称 | 近红外显微分光测定仪 |
近红外显微分光测定仪用
透过测定选配件 |
近红外显微分光测定仪用
45度反射测定选配件 | ||
| 型号 | USPM-RU-W | ||||
| 测定波长 | 380～1050nm | ||||
| 测定方法 | 对参照样品的比较测定 | 对100%基准的透过率测定 | 对参照样品的比较测定 | ||
| 测定范围 | 参照下列对物镜的规格 | 约ø2.0mm | |||
|
测定
再现性（3σ）*2 | 反射率测定 | 使用10×、20×物镜时 |
±0.02[%]以下（430-1010nm）、
±0.2[%]以下（上述以外） |
±1.25[%]以下（430-1010nm）、
±5.0[%]以下（左侧记载除外） | |
| 使用40×物镜时 |
±0.05[%]以下（430-950nm）、
±0.5[%]以下（上述以外） | ||||
| 厚膜测定 | ±1% | - | |||
| 波长显示分解能 | 1nm | ||||
| 照明附件 | 专用卤素灯光源 JC12V 55W（平均寿命700h） | ||||
| 位移受台 |
承载面尺寸：200(W)×200(D)mm
承重：3 kg 工作范围：(XY) ±40mm, (Z)125mm | ||||
| 倾斜受台 | － |
承载面尺寸： 140(W)×140(D)mm
承重： 1 kg 工作范围：(XT) ±1°, (YT) ±1° | |||
| 装置质量 | 主体：约26 kg（PC除外） | 主体：约31 kg（PC除外）*3 | |||
| 控制电源箱：约6.7kg | |||||
| 装置尺寸 | 主体部位：360(W)×446(D)×606(H)mm | 主体部位：360(W)×631(D)×606(H)mm | |||
| 控制电源箱：250(W)×270(D)×125(H)mm | |||||
| 电源规格 | 输入规格：100-240V (110VA) 50/60Hz | ||||
| 使用环境 |
水平无振动的场所
温度：15～30℃ 湿度：15～60％RH（无结露） | ||||
*1 选件组件 *2 本社测定条件下的测定 *3 装配透过率测定套件与45度反射测定套件的总重量为33kg。
| 型号 | USPM-OBL10X | USPM-OBL20X | USPM-OBL40X |
| 倍率 | 10x | 20x | 40x |
| NA | 0.12 | 0.24 | 0.24 |
| 测定范围*4 | 70μm | 34μm | 17μm |
| 工作距离 | 14.3mm | 4.2mm | 2.2mm |
| 样品的曲率半径 | ±5mm～ | ±1mm～ | ±1mm～ |
*4 点径
各个窗口的布局配置、尺寸变更、窗口的显示/不显示等可以根据测定目的、操作人员的喜好进行自动设置。
可以在一个界面中易懂地显示分光反射率/透过率图表、文本、颜色测定（XY色度图、L*a*b*色度图）、膜厚测定值。
可以在[FOCUS]窗口与[CT]窗口中简单地调整测定样品的焦点与位置。
根据测定样品、测定目的、测定方法，详细地设置测定条件，从而可以进行正确、迅速的测定。
设置规格值，显示OK/NG，合格与否的判定一目了然。
This site uses cookies to enhance performance, analyze traffic, and for ads measurement purposes. If you do not change your web settings, cookies will continue to be used on this website. To learn more about how we use cookies on this website, and how you can restrict our use of cookies, please review our Cookie Policy.
