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USPM-RU III

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USPM-RUIII Micro Spectrophotome
主页/ 产品/ 镜片反射率测定仪/ USPM-RU III
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概览

USPM-RU III反射仪可精确测量当前分光仪无法测量的微小、薄样本的光谱反射率,不会与样本背面的反射光产生干涉。是十分适合测量曲面反射率、镀膜评价、微小部品的反射率测定系统。

  1. 消除背面反射光
    采用特殊光学系统,消除背面反射光。
    不必进行背面的防反射处理,可正确测定表面的反射率。

  2. 可测定微小区域的反射率
    用物镜对焦于样本表面的微小光斑(ø60 μm),可以测定镜片曲面及镀膜层是否均匀。

  3. 测定时间短
    由于使用了Flat Field Grating(平面光栅)和线传感器的高速分光测光机构,可以进行快速、再现性很高的测定。

  4. 支持XY色度图、L*a*b*测定
    可以依据分光测色法,通过分光反射率测定物体颜色。

  5. 可以测定高强度镀膜的膜厚
    采用干涉光分光法,可以在不接触、无损的情况下测定被检物的膜厚(单层膜)。

技术规格

镜片反射率测定仪 USPM-RU III:规格

测定波长 380 nm~780 nm
测定方法 与参照样本的比较测定
被检物N.A. 0.12(使用10×物镜时)
0.24(使用20×物镜时)
* 与物镜的N.A.不同。
被检物W.D. 10.1 mm(使用10×物镜时)
3.1 mm(使用20×物镜时)
被检物的曲率半径 -1R ~-∞、+1R~∞
被检物的测定范围 约ø60 μm(使用10×物镜时)
约ø30 μm(使用20×物镜时)
测定再现性(2σ) ±0.1%(380 nm~410 nm测定时)
±0.01%(410 nm~700 nm测定时)
显示分辨率 1 nm
测定时间 数秒~十几秒(因取样时间而异)
光源规格 卤素灯 12 V 100 W
载物台Z方向驱动范围 85mm
PC接口 USB方式
装置重量 机身:约20 kg(PC、打印机除外)
光源用电源:约3 kg
控制器盒:约8 kg
装置尺寸 机身:
300(W)×550(D)×570(H) mm
光源用电源:
150(W)×250(D)×140(H) mm
控制器盒:
220(W)×250(D)×140(H) mm
电源规格 光源用电源:
100 V(2.8 A)/220 V AC
控制器盒:
100V(0.2A)/220V AC
使用环境 水平且无振动的地方
温度: 23±5 °C
湿度: 60%以下、无结露

* 本装置不保证溯源体系中的绝对精度。
* 可以特别订做测定波长440 nm~840 nm规格。

资源库

产品信息说明册

USPM-RUIII Micro Spectrophotome
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